產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related ArticlesNanoSystem NSM系列非接觸式3D表面測量系統(tǒng)用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole,Pad形狀,pattern形貌和表面形貌等11個(gè)項(xiàng)目可以進(jìn)行自動(dòng)測量。 在高速測量下仍具有優(yōu)秀的重復(fù)性和準(zhǔn)確性,支持用戶設(shè)定測量條件和測量數(shù)據(jù)自動(dòng)保存及分析功能。
NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統(tǒng)用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole,Pad形狀,pattern形貌和表面形貌等11個(gè)項(xiàng)目可以進(jìn)行自動(dòng)測量。 在高速測量下仍具有優(yōu)秀的重復(fù)性和準(zhǔn)確性,支持用戶設(shè)定測量條件和測量數(shù)據(jù)自動(dòng)保存及分析功能。
Nanosystem NVF-2700 非接觸式3D輪廓儀,通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。
NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學(xué)輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS,Engineering Surfaces等領(lǐng)域提供納米級別精度的測量.
Nanosystem NV-2700 非接觸式3D輪廓儀,通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。
Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。
歡迎您加我微信了解更多信息
微信掃一掃